ic測試設備廠家Chiller,元器件高低溫設備

簡要描述：ic測試設備廠家Chiller,元器件高低溫設備的典型應用：
適合元器件測試用設備，在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環境測試模擬。

產品型號：TES-4525
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-01-07
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品牌	LNEYA/無錫冠亞	價格區間	面議
產地類別	國產	應用領域	電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣

元器件測試用設備

無錫冠亞元器件測試用設備

主要用于半導體測試中的溫度測試模擬，

具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測試要求。

型號		TES-4525 TES-4525W	TES-4555 TES-4555W	TES-45A10 TES-45A10W	TES-45A15 TES-45A15W	TES-45A25 TES-45A25W
溫度范圍		-45℃～250℃	-45℃～250℃	-45℃～250℃	-45℃～250℃	-45℃～250℃
加熱功率		2.5kw	5.5kw	10kw	15kw	25kw
制冷量	250℃	2.5kw	5.5KW	10KW	15KW	25KW
	100℃	2.5kw	5.5KW	10kw	15KW	25KW
	20℃	2.5KW	5.5KW	10KW	15KW	25KW
	0℃	1.8KW	5KW	10KW	15KW	25KW
	-20℃	0.85KW	2.9KW	6KW	11KW	16KW
	-40℃	0.25KW	0.9KW	2KW	3.8KW	5.3KW
導熱介質溫控精度		±0.3℃	±0.3℃	±0.3℃	±0.3℃	±0.3℃
系統壓力顯示		制冷系統壓力采用指針式壓力表實現（高壓、低壓）循環系統壓力采用壓力傳感器檢測顯示在觸摸屏上
控制器		西門子PLC，模糊PID控制算法，具備串控制算法
溫度控制		導熱介質出口溫度控制模式外接溫度傳感器：（PT100或4～20mA或通信給定）控制模式（串控制）
可編程		可編制10條程序，每條程序可編制45段步驟
通信協議		以太網接口TCP/IP協議
設備內部溫度反饋		設備導熱介質出口溫度、介質溫度、制冷系統冷凝溫度、環境溫度、壓縮機吸氣溫度、冷卻水溫度（水冷設備有）
外接入溫度反饋		PT100或4～20mA或通信給定
串控制時溫差控制功能		導熱油出口溫度與外接溫度傳感器的溫度差可設定可控制設備進液口溫度與出液口溫度的溫度差值可設定可控制（保護系統安全）
密閉循環系統		整個系統為全密閉系統，高溫時不會有油霧、低溫不吸收空氣中水份，系統在運行中不會因為高溫使壓力上升，低溫自動補充導熱介質。
加熱		指系統大的加熱輸出功率（根據各型號）加熱器有三重保護，獨立溫度限制器，確保加熱系統安全功率大于10KW采用調壓器，加熱功率輸出控制采用4～20mA線性控制
制冷能力		指在不同的溫度具備帶走熱量的能力（理想狀態下），實際工況需要考慮環境散熱，請適當放大，并且做好保溫措施。
循環泵流量、壓力 max		采用冠亞磁力驅動泵/德國品牌磁力驅動泵
		20L/min2.5bar	50L/min2.5bar	50L/min2.5bar	110L/min2.5bar	150L/min2.5bar
壓縮機		法國泰康	艾默生	艾默生/丹佛斯	艾默生/丹佛斯	艾默生/丹佛斯
蒸發器		采用DANFOSS/高力板式換熱器
制冷附件		丹佛斯/艾默生配件（干燥過濾器、油分離器、高低壓保護器、膨脹閥）
操作面板		無錫冠亞定制7英寸彩色觸摸屏，溫度曲線顯示EXCEL 數據導出
安全防護		具有自我診斷功能；相序斷相保護器、冷凍機過載保護；高壓壓力開關，過載繼電器、熱保護裝置等多種安全保障功能。
制冷劑		R-404A / R507C
接口尺寸		G1/2	G3/4	G3/4	G1	DN32 PN10 RF
外型尺寸（風）cm		4585130	5595170	70100175	80120185	100150185
外型尺寸（水）cm		4585130	4585130	5595170	70100175	80120185
風冷型		采用銅管鋁翅片冷凝方式，上出風型式，冷凝風機采用德國EBM軸流風機
水冷型 W		帶W型號為水冷型
水冷冷凝器		套管式換熱器（帕麗斯/沈氏）
冷卻水量 at 25℃		0.6m3/h	1.5m3/h	2.6m3/h	3.6m3/h	7m3/h
電源 380V50HZ		4.5kw max 220V	9kw max	16kw max	23kw max	36kw max
電源		可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相
外殼材質		冷軋板噴塑（標準顏色7035）
隔離防爆		可定制隔離防爆（EXdIIBT4) 無錫冠亞防爆產品安裝許可證號：PCEC-2017-B025
正壓防爆		可定制正壓防爆(EXPXdmbIICT4) 正壓系統必須是水冷設備無錫冠亞防爆產品安裝許可證號：PCEC-2017-B025

ic測試設備廠家Chiller,元器件高低溫設備

電子元器件的失效大多數是由于體內和表面的各種物理化學變化所引起，它們與溫度有密切的關系。溫度升高以后，化學反應速度大大加快，失效過程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時暴露，予以剔除。

高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機理的器件。通常在較高結溫下貯存小時。

元器件是整機的基礎，它在制造過程中可能會由于本身固有的缺陷或制造工藝的控制不當，在使用中形成與時間或應力有關的失效。為了保證整批元器件的可靠性，滿足整機要求，必須把使用條件下可能出現初期失效的元器件剔除。元器件的失效率隨時間變化的過程可以用類似浴盆曲線的失效率曲線來描述，早期失效率隨時間的增加而迅速下降，使用壽命期或稱偶然失效期內失效率基本不變。

元器件測試用設備